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            金屬覆蓋層厚度測量X射線(xiàn)光譜國標
            2013/7/10 [4905]

            常規的X射線(xiàn)測厚儀比如德國菲希爾的FISCHERSCOPE X-RAY XULM,是一款應用廣泛的能量色散型X射線(xiàn)熒光光譜儀,它結構緊湊,小巧耐用。它們十分適用于無(wú)損測量細小零部件上的鍍層厚度和成分分析。為了使每次測量都能在*的條件下進(jìn)行,XULM配備了可電動(dòng)調整的多種準直器及基本濾片。 比例接收器能實(shí)現高計數率,這樣就可以進(jìn)行高精度測量。由于采用了Fischer基本參數法,無(wú)論是鍍層系統還是固體和液體樣品,都能在沒(méi)有標準片的情況下進(jìn)行準確分析和測量??蓽y量的元素范圍從氯(17)到鈾(92)。

            XULMX射線(xiàn)光譜儀有著(zhù)良好的長(cháng)期穩定性,這樣就不需要經(jīng)常校準儀器。

            本款儀器特別適合用于客戶(hù)進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗和生產(chǎn)流程監控。

            典型的應用領(lǐng)域有:

            微小零部件、接插件和線(xiàn)材上鍍層厚度的測量

            印制線(xiàn)路板上手動(dòng)測量

            珠寶手表業(yè)中的鍍層厚度測量及成分分析 

            設計理念

            FISCHERSCOPE X-RAY XULM設計為界面友好、結構緊湊的臺式測量?jì)x器系列。根據使用用途,有以下兩種不同版本型號,分別對應不同樣品平臺:

            XULM 固定平面平臺

            XULM XYm 手動(dòng)X/Y平臺

            高分辨的彩色攝像頭配以強大的放大功能,可以定位測量位置。

            盡管儀器本身結構緊湊,但是由于XULM光譜儀配備了寬敞的測量室,從而可以測量更大體積的樣品。

            外罩底部留下了空隙,可方便地測量超出測量室大小的大尺寸扁平樣品,如大面積的印制線(xiàn)路板等。

            通過(guò)強大且界面友好的WinFTM®軟件,可以在電腦上便捷地完成整個(gè)測量過(guò)程,包括測量結果的數據分析和所有相關(guān)信息的顯示等。

            XULM型光譜儀是型式許可符合德國”Deutsche Röntgenverordnung-RöV“法令要求的,有完善防護措施的測量?jì)x器。

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